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手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(zhǎng)（λ）及能量（E）確定具體元素，而通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線的密度來(lái)確定此元素的量。如此一來(lái)，XRF度普術(shù)就能測(cè)定物質(zhì)的元素構(gòu)成。手持式合金分析儀是基于X射線理論而誕生的，它主要用于軍工、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領(lǐng)域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)定。是伴隨世界經(jīng)濟(jì)崛起的工業(yè)和軍事制造領(lǐng)域的快速成份鑒定工具。每一個(gè)原子都有自己固定數(shù)量的電子（負(fù)電微粒）運(yùn)行在核子周?chē)能壍郎稀?..

光學(xué)輪廓儀是一款非常精密的檢測(cè)儀器，它可以檢測(cè)工件的粗糙度，并且數(shù)據(jù)十分。高精度輪廓儀是對(duì)物體的輪廓、二維尺寸、二維位移進(jìn)行測(cè)試與檢驗(yàn)的儀器，作為精密測(cè)量?jī)x器在汽車(chē)制造和鐵路行業(yè)的應(yīng)用十分廣泛。光學(xué)輪廓儀通過(guò)對(duì)被測(cè)物進(jìn)行缺陷檢測(cè)，實(shí)現(xiàn)了被測(cè)物件的在線連續(xù)式缺陷檢測(cè)，及時(shí)的防止帶缺陷的軋材進(jìn)入下一生產(chǎn)環(huán)節(jié)，提高了被測(cè)物的成品率和檢測(cè)效率。光學(xué)輪廓儀具備四只二維激光測(cè)量傳感器，每只二維激光傳感器負(fù)責(zé)檢測(cè)一個(gè)方位的輪廓情況，四只傳感器*可以滿足軋材的同一截面的輪廓檢測(cè)，這樣隨著被測(cè)...

膜厚儀做為一種測(cè)量物體厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是涂層測(cè)厚儀，擁有測(cè)量精度高，利用探頭接觸測(cè)量方式的優(yōu)點(diǎn)。光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值。光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x的使用注意事項(xiàng)：1.零點(diǎn)校準(zhǔn)在每次使用膜厚儀之前需要進(jìn)行光學(xué)校準(zhǔn)，因?yàn)橹暗臏y(cè)量參數(shù)會(huì)影響該次對(duì)物體的測(cè)量，零點(diǎn)校準(zhǔn)可以消除前次測(cè)量有參數(shù)的影響，能夠降低測(cè)量的結(jié)果的誤差，使測(cè)量結(jié)果更加。2.基體厚度不宜過(guò)薄在使用...

XRF鍍層測(cè)厚儀主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定；、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。XRF鍍層測(cè)厚儀的測(cè)量工作原理：1、磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為:鋼鐵銀鎳。此種方法測(cè)量精度高（如：鐵等磁性材料）2、渦流測(cè)厚法：渦流測(cè)量原理是高頻交流信號(hào)在測(cè)頭線圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng)，測(cè)頭靠近導(dǎo)體時(shí)，就在其中形成渦流。測(cè)頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。與磁感應(yīng)測(cè)厚法一樣，渦流測(cè)厚法也達(dá)到了分辨率0.1um，允許誤差1%，量程1...

XRF手持式合金分析儀在金屬制造行業(yè)中，材料、半成品、成品的質(zhì)量與質(zhì)量控制（QA/QC）是*的，混料或使用不合格材料必給企業(yè)帶來(lái)?yè)p失。XRF手持式合金分析儀被廣泛用于從小型金屬材料加工廠到大型的飛機(jī)的各種制造業(yè)。已成為質(zhì)量體系中材料確認(rèn)、半成品檢驗(yàn)、成品復(fù)檢的儀器。XRF手持式合金分析儀的是一種XRF光譜分析技術(shù)，可用于確認(rèn)物質(zhì)里的特定元素，同時(shí)將其量化。它可以根據(jù)X射線的發(fā)射波長(zhǎng)(λ)及能量(E)確定具體元素，而通過(guò)測(cè)量相應(yīng)射線的密度來(lái)確定此元素的量。如此一來(lái)，XRF度普術(shù)...

光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x采用的是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來(lái)填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特征信息。使用光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x的注意事項(xiàng)有以下三點(diǎn)：一、注意保持試件表面的清潔和平整的光學(xué)膜厚測(cè)量?jī)x是一個(gè)非常精密的儀器，如果我們要想我們的測(cè)量數(shù)據(jù)能夠保持的話，就要保持試件表面的清潔，及時(shí)的處理掉試件表面的附...