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光學(xué)膜厚儀（SpectraThickseries）的特點是非接觸,非破壞方式測量，無需樣品的前處理，軟件支持Windows操作系統(tǒng)等。Filmetrics的光學(xué)膜厚儀使用的是白光干涉的原理，從而對樣品表面的膜層進(jìn)行測量，基本上所有光滑的、半透明的或者地吸收洗漱的薄膜都可以進(jìn)行測量。不管是打算測量薄膜厚度，還是光學(xué)常數(shù)，或者是打算知道材料的反射率和透過率，優(yōu)尼康科技有限公司提供的儀器都可以滿足你的需求，通過簡單安裝，連接電腦，就可以很快測量出結(jié)果。這種產(chǎn)品主要應(yīng)用在，半導(dǎo)體行業(yè)...

在企業(yè)、廠商生產(chǎn)過程中，使用薄膜厚度測量儀（膜厚儀）都應(yīng)該制定完善的操作規(guī)范制度，這樣才好幫助工作人員更好的進(jìn)行使用，并測量結(jié)果的性。現(xiàn)階段，隨著在我們優(yōu)尼康購買膜厚儀的廠家越來越多，應(yīng)用的場景和環(huán)境越來越廣泛，在使用過程中需要注意的一些基本事項，還有操作細(xì)節(jié)，需要大家高度關(guān)注。下面來簡單看下膜厚儀在操作中需要注意的細(xì)節(jié)（僅供參考，具體問題還是建議咨詢我們工程師）一、在當(dāng)下，這類薄膜厚度檢測設(shè)備在很多領(lǐng)域當(dāng)中都發(fā)揮了十分關(guān)鍵的作用，比如工廠、生產(chǎn)加工、半導(dǎo)體行業(yè)等等，大家在檢...

自動光譜橢偏儀光譜范圍覆蓋從深紫外到可見光再到近紅外.深紫外波長非常適合測量超薄薄膜，比如納米厚度薄膜厚度，比如硅晶圓的薄膜厚度，典型值在2nm左右。對于測量許多材料的帶隙，深紫外光譜橢偏儀也非常重要。橢圓偏振技術(shù)是通過研究光束在樣本表面反射后偏振態(tài)變化而獲得表面薄膜厚度等信息的薄膜測量技術(shù)。與反射計或反射光譜技術(shù)不同的是，光譜橢偏儀參數(shù)Psi和Del并非在常見入射角下獲得。通過改變?nèi)肷浣谴笮?，可獲得許多組數(shù)據(jù)，這樣就非常有助于優(yōu)化橢偏儀測量薄膜或樣本表面的能力，因此變角橢偏...

高精度的機器設(shè)備對于現(xiàn)代化工廠來說，是重要的，采購在選擇的時候會考慮很多因素，對于生產(chǎn)制造而言，設(shè)備的質(zhì)量好，適合生產(chǎn)要求，可以極大的提高企業(yè)工作效率，提高產(chǎn)能，并且對企業(yè)發(fā)展起到一定的推動作用，所以，采購在設(shè)備的選擇購買上一般都會很慎重。既然這樣，像光學(xué)膜厚儀這類光學(xué)高精度儀器，如何選擇適合自己企業(yè)生產(chǎn)的機臺？但是，市場上，經(jīng)銷商那么多，各種型號，諸多選擇，人們就會很困擾，如何選擇。那么就以我們優(yōu)尼康為例，和大家說一說如何選擇，給大家起到一個參考作用。優(yōu)尼康科技有限公司是一...

膜厚儀作為一種測量膜層厚度的儀器，在很多的行業(yè)領(lǐng)域都得到了廣泛的應(yīng)用，尤其是光學(xué)膜厚儀，因為測量精度高、非接觸方、無須破壞樣品等優(yōu)點，受到眾多企業(yè)用戶和高校老師的喜愛，今天主要對光學(xué)膜厚儀做個簡單了解。光學(xué)膜厚儀的優(yōu)點1.非接觸式測量光學(xué)膜厚儀采用的原理是通過光的反射原理對膜層厚度進(jìn)行測量，屬于非接觸式測量方法，不會對樣品造成任何損傷，能夠樣品的完整性。2.測量數(shù)據(jù)多樣可以測得物體的膜厚度和n，k數(shù)據(jù)，這是其它類型的膜厚儀所不具備的特點。3.測量快速光學(xué)膜厚儀的測量過程非?？?..

臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創(chuàng)新性的設(shè)計，可以提供更高的重復(fù)性和分辨率。臺階儀這項性能的提高達(dá)到了過去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新的，更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測量，通過在研究工作中的廣泛使用，臺階儀一定能夠做到功能更強大，操作更簡易，檢測過程和數(shù)據(jù)采集更完善。臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術(shù)突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能，從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件，半導(dǎo)體，電池，高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域。臺階儀具備高精度、方便使用、作用強等優(yōu)勢...